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E系列功率器件功能高壓測試模塊
普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備，產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU）的第三代半導體功率器件靜態參數測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試
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2025-11-20 |
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鈣鈦礦太陽能電池MPPT并行老化測試插卡式源表
目前，鈣鈦礦太陽能電池的效率正在不斷提高，但是鈣鈦礦材料本身的穩定性嚴重影響了其商業化的進程。根據國際規定的光伏組件老化測試標準（IEC61646,2008），光伏器件必須可以在85%濕度和85 ℃溫度的條件下連續工作1
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2025-11-20 |
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精密國產電流源高精度IV曲線掃描測試儀
普賽斯數字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高
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2025-11-20 |
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8000V/6000A功率器件測試設備
普賽斯IGBT功率器件靜態參數測試系統,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結電容,如輸
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2025-11-20 |
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傳感器響應時間測試大電流源
HCPL100傳感器響應時間測試大電流源特點和優勢： 50~500us的脈沖寬度連續可調； 15us的超快上升沿； 同步測量電壓； 單臺z大可達1000A輸出； 可極性反轉； 0.1%測試精度；詳詢18140663476技術指標電流脈寬 50μs~500
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2025-11-20 |
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柔性材料動態測試數字源表
柔性電子材料“動態”測試難點 柔性電子材料在使用過程中會被反復彎折扭曲，在此過程中材料表面和內部的應力狀態和微觀結構都會逐漸發生變化,進而影響材料的電學性能和壽命。用多次反復彎折扭曲等方法來測試柔性材料
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2025-11-20 |
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微電流IV曲線掃描數字源表_國產源表
普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態范圍、率先國產化的源表系列產品，集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體。可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許
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2025-11-20 |
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半導體功率循環測試數據采集卡
概述： A400數據采集卡，是一款普賽斯自主設計開發的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數據存儲的高精度數據采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達16bits，z高支持1MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間
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2025-11-20 |
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