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IGBT|SiC功率半導體器件測試設備
IGBT|SiC功率半導體器件主要測試參數 近年來IGBT成為電力電子領域中尤為矚目的電力電子器件,并得到越來越廣泛的應用,那么IGBT的測試就變的尤為重要了。lGBT的測試包括靜態參數測試、動態參數測試、功率循環、HTRB可
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2025-11-20 |
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國產DPX00B系列雙通道數字源表
產品簡介DPX00B雙通道高精度臺式脈沖源表是在單通道脈沖臺式源表基礎上新打造的一款高精度、大動態、數字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，單通道z大輸出電壓達300V，z大脈沖輸出電流達30A，支持
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2025-11-20 |
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四象限電源VI曲線數字源表
四象限電源VI曲線數字源表認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業提供更加精準、穩定的測試方案
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2025-11-20 |
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PIV特性曲線掃描測試恒流脈沖源us級脈寬
LIV71010恒流脈沖源適用于可見光、VCSEL陣列等大功率激光器的測試，支持脈沖、直流PIV特性曲線掃描測試和特性參數計算，支持光譜特性測試（需要外接光譜儀）。儀表集脈沖電流源、電流表、電壓表和光功率計等功能于一
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2025-11-20 |
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雙極性電流源表微弱電流IV曲線測試
IV曲線測試（電流-電壓特性曲線測試）是一種用于評估電子元件（如二極管、晶體管、太陽能電池等）電氣特性的基本方法。其原理是通過測量元件在不同電壓下的電流響應，繪制出電流（I）與電壓（V）之間的關系曲線，從
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2025-11-20 |
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PXle系列插卡式源表4通道高精密源測
PXIe-514X系列是4通道獨立的PXIe插卡式高性能精密源表，能夠同時輸出和測量電壓電流，蕞大支持±30V±1000mA直流/脈沖輸出，z小脈寬可達100μs。支持源表標準SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步觸發，提高
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2025-11-20 |
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半導體電學特性測試系統CV+IV測試儀
概述： SPA-6100半導體參數分析儀是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高
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2025-11-20 |
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功率半導體器件CV測試系統
功率器件CV測試系統方案 普賽斯半導體功率器件C-V測試系統主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負責提供可調直流電壓偏置，通過矩陣開關加載在待測件上。
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2025-11-20 |
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