北京低溫檢測實驗室GBT2423.1低溫試驗報告

北京儀綜所低溫檢測實驗室，是第三方的北京低溫檢測機(jī)構(gòu)，提供低溫環(huán)境試驗、低溫貯存/儲存、低溫工作/運行試驗，低溫溫度-70℃的環(huán)境試驗服務(wù)。為各類儀器儀表、電控儀器、醫(yī)用電氣設(shè)備、電路板卡、機(jī)箱機(jī)柜、軌道幾桶設(shè)備、測量儀器、信號控制設(shè)備等設(shè)備提供低溫測試。

檢測中心是省部級以上的第三方檢測機(jī)構(gòu)，北京低溫檢測機(jī)構(gòu)，具備CNAS資質(zhì)、CMA資質(zhì)，獨立的操作空間，是大型的綜合性的檢測實驗室，提供一站式產(chǎn)品檢測服務(wù)。

低溫試驗所屬現(xiàn)代詞，指的是把試樣暴露在低溫環(huán)境中進(jìn)行的試驗，通常用溫度和試驗持續(xù)時間表示嚴(yán)酷等級。

中文名稱：低溫試驗

英文名稱：low-temperature test

定義：把試樣暴露在低溫環(huán)境中進(jìn)行的試驗，通常用溫度和試驗持續(xù)時間表示嚴(yán)酷等級。應(yīng)用學(xué)科：機(jī)械工程（一級學(xué)科）；實驗室儀器和裝置（二級學(xué)科）；氣候環(huán)境試驗設(shè)備-氣候環(huán)境試驗設(shè)備測量方法（三級學(xué)科）

低溫試驗的目的是確定軍 民用設(shè)備在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性。

GB/T2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》是z基礎(chǔ)的低溫環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)，幾乎所有的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的低溫試驗方法，均按照此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行低溫試驗。

低溫試驗用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。

低溫試驗的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時間、上升速率。

注意產(chǎn)品從低溫箱取出時由于溫度突變會產(chǎn)生冷凝水。（對溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗均適用）。

樣品放入試驗箱內(nèi)為保持樣品表面溫度的均勻性，樣品距離箱壁的距離z少為5cm。

GB/T 2423.1中低溫的試驗方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變試驗結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會要求對樣品吹稍熱的風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。

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